Diffractomètre à Rayons X Bruker D8 Advance (DRX)
Documentation Technique CITT
/ Spécifications Techniques
Géométrie Bragg-Brentano : Configuration la plus courante, où l'échantillon est fixe et le tube à rayons X et le détecteur tournent autour de l'échantillon à des angles θ et 2θ
Types de détecteurs disponibles : Détecteur à scintillation, détecteur CCD, détecteur PSD
Gamme d'angles 2θ : 20° à 160° (ou plus)
Résolution angulaire : Variable, généralement de 0.002° à 0.02°
Logiciel DIFFRAC.SUITE avec base de données PDF20 : Suite logicielle complète pour l'acquisition, l'analyse et la visualisation des données de diffraction.
/ Applications & Domaines
Sciences des matériaux : Analyse de phases cristallines, taille des cristallites, orientation des grainsMétallurgie : Détection de contraintes résiduelles dans les alliagesNanotechnologie : Étude des structures fines et films mincesSciences de la terre : Caractérisation des minéraux et des rochesSciences de la vie : Analyse des cristaux biologiques
Avantages Majeurs
Mesures de texture ou contraintes résiduelles
Utilisation d'échantillons en poudres et en films minces
Conception compacte du berceau d'Euler
Rotations Khi et Phi et Translation Z motorisées : pouvant être utilisées pour le positionnement et pour le balayage
Chambre HTK 1200N : permet des expérimentations sous haute température jusqu'à 1200°C sous vide > 10-4 mbar, sous atmosphère gaz inerte ou à l'air
Passeur automatique d'échantillons