Microscope Électronique à Balayage JEOL JSM-IT500HR
Documentation Technique CITT
/ Spécifications Techniques
Type : Microscope électronique à balayage (MEB) à émission de champ (FEG)
Résolution : 15 nm en mode électrons secondaires (SE) à 30 kV, 2 nm en mode électrons rétrodiffusés (BE) à 30 kV
Grossissement : Jusqu'à 1 000 000x
Tension d'accélération : 0,5 à 30 kV
Courant de sonde : 1 Pa à 200 μA
Détecteurs : SED / BED / EDS
/ Applications & Domaines
Sciences des matériaux : Analyses microstructurale et chimique des métaux, céramiques, compositesNanotechnologie : Caractérisation des nanostructuresMicroélectronique : Analyse de circuits intégrésSciences de la vie : Observation de structures biologiquesSciences de la terre : Étude minéralogique et pétrographiquePolymères : Morphologie et composition
Avantages Majeurs
Imagerie haute résolution
Analyse élémentaire précise
Polyvalence pour diverses disciplines
Interface utilisateur intuitive